测定颗粒系统不必那么那么复杂。从三种不同的技术中选择，来表征从纳米到毫米范围内的颗粒。Litesizer DLS 系列利用了光散射技术来确定分散液中纳米颗粒和微颗粒的颗粒尺寸、zeta 电位、透光率、分子量以及折光率。PSA 系列粒径分析仪使用激光衍射（LD）技术来测量分散液和固体粉末中微米和毫米范围内的颗粒尺寸。Litesizer DIA 系列基于动态图像分析，因此它可以提供颗粒形状信息以及颗粒尺寸信息。